現(xiàn)在國(guó)內(nèi)廠(chǎng)家生產(chǎn)的回路電阻測(cè)試儀都是采用四端法測(cè)試，用高頻開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)生大于100A 的測(cè)試電流，當(dāng)按下測(cè)量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A的測(cè)試電流，同時(shí)采樣電路開(kāi)始對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，zui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。

以上原理在試驗(yàn)室正常試驗(yàn)時(shí)效果很好，而且當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線(xiàn)或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路開(kāi)路。但當(dāng)電壓接線(xiàn)回路出現(xiàn)接觸不良或開(kāi)路時(shí)，測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：

1）電壓回路開(kāi)路或接觸不良，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾如圖一所示：

圖中的R1表示回路電阻測(cè)試儀電壓線(xiàn)回路中的電阻。當(dāng)電壓線(xiàn)斷線(xiàn)時(shí)，R1的電阻為無(wú)窮大，有時(shí)候在斷路器的接線(xiàn)排上會(huì)有氧化膜或油膜。當(dāng)回路電阻的電壓測(cè)試鉗接到這樣的接線(xiàn)排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，測(cè)試的接觸電阻并不是無(wú)窮大，也不是小到可以忽略（對(duì)于電壓采樣的輸入電阻）。這種情況下，回路電阻測(cè)試儀顯示的數(shù)據(jù)與實(shí)際試品的電阻值數(shù)據(jù)的關(guān)系如下：

設(shè)試品電阻為Rx,電壓采樣回路的輸入內(nèi)阻為Ri，電流采樣不受影響。儀器顯示的值=Rx*Ri/（R1+Ri）,比實(shí)際測(cè)試的阻止要小一些，如果此時(shí)試品的阻值 Rx已經(jīng)超出了安全范圍，而儀器顯示的值卻可能在合格范圍之內(nèi)，此時(shí)就容易使試驗(yàn)人員產(chǎn)生誤判，產(chǎn)生安全隱患。

2）電壓回路開(kāi)路或接觸不良時(shí)（開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大），試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾如圖二所示：

此時(shí)帶電母線(xiàn)通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容干擾兩條電壓測(cè)試線(xiàn)，由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線(xiàn)兩端出現(xiàn)差模電壓，如果干擾較大，會(huì)使回路電阻測(cè)試儀顯示出比試品電阻值大的多的數(shù)值，此時(shí)試驗(yàn)人員會(huì)判斷出有問(wèn)題，解決后，得到正確的數(shù)值。